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喜訊丨高精度晶圓級(jí)光學(xué)缺陷檢測設(shè)備成功出機(jī)

時(shí)間：2023-08-24

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瀏覽數(shù):1107


近日，聚時(shí)科技成功出機(jī)高精度晶圓級(jí)光學(xué)缺陷檢測設(shè)備，開始部署交付國內(nèi)某新銳集成電路企業(yè)。
聚時(shí)科技已建立相對(duì)完整的產(chǎn)品矩陣，其中MatrixSemi系列高精度晶圓級(jí)光學(xué)缺陷檢測量測產(chǎn)品，覆蓋應(yīng)用于前道制程、先進(jìn)封裝、第三代半導(dǎo)體化合物襯底檢測等眾多工藝場景。憑借創(chuàng)新的大規(guī)模深度學(xué)習(xí)引擎、高精度微納光學(xué)系統(tǒng)、高精密傳輸系統(tǒng)和高速運(yùn)動(dòng)臺(tái)系統(tǒng)、圖形圖像處理專用系統(tǒng)，打造了系列化半導(dǎo)體高精度檢測量測設(shè)備。

聚時(shí)科技將繼續(xù)堅(jiān)持技術(shù)創(chuàng)新，持續(xù)加大研發(fā)投入、立足客戶實(shí)際需求，為客戶提供更好的硬科技產(chǎn)品與高質(zhì)量服務(wù)。

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